AC690x_1T2_测试盒频偏校准说明书 V1.1
AC690x_ 1T2_测试盒频偏校准说明书 V1. 1
2021-06-28
测试盒频偏校准说明
固件版本V1.1.9 (v2.1.9)以上支持两个从机分别进入定频发射模式(从机 1定频点:2441MHz,从机2定频点:2442MHz),可根据手持式频谱分析仪频谱,对从机无源晶振负载电容或有源晶振调频螺丝进行调节,进而校准频偏。
具体操作步骤如下:
1、 手持式频谱分析仪设置
将天线接入手持式频谱分析仪的RF输入端口,按下“Mode”键,选择“频谱分析仪”功能。进入频谱分析仪界面后,按下“Frep/Dist”键,将中心频率设置成2441MHz,扫描宽度设置为200KHz (如图 1所示)。
图 1 手持式频谱分析仪设置
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2、 无源晶振测试盒(PCB版本V2.2及以下)从机频率校准
(1)关机状态打开拨码开关 1(拨码2 需处于OFF位置),且在开机的过程长按中间按键,从机1进入定频发射模式,此时屏幕右下角会显示当前定频发射通道“SC : 1”(如图2所示);
图2 从机 1进入定频发射模式界面
(2)进入定频发射模式,需等待频率稳定后(至少5分钟),将测试盒靠近手持式频谱分析仪的天线,频谱上面的峰值对应频率即是从机 1定频发射点。
(3)手持式频谱分析仪按下“Marker”按键,再按“游标激活”,选择2441MHz;然后按下“差值”按键,最后按下“Peak”按键,屏幕上的标记差异即是从机1 的频偏值(如图3所示)。
图3 频偏值显示
(4)根据频偏值,更换对应从机上晶振负载电容(如图4),待电容冷却和频率稳定后(至少 10分钟),再进行频偏测试,待测试盒频偏调整到±5KHz 以内,再按下“Freq/Dist”按键,将扫描宽度调成 10KHz(扫描宽度小,频偏测试更精准),将频偏校准至±3KHz 以内并记录好频偏值。
图4 对应从机上晶振负载电容
(5)校准完从机1 的频偏,需关机,把拨码开关2打到ON位置(同时拨码开关 1需处于OFF 位置),且开机的过程长按中间按键,对应从机2将进入定频模式(需将中心频点设为2442MHz);
(6)重复第(4)步骤,将从机2频偏校准并记录好频偏值;
(7)将之前记录好的数据贴好标签并保存到测试盒之中(如图5所示)。

图5 将校准值填写在测试盒中
3、 有源晶振测试盒(PCB版本V2.3及以上)从机频率校准
(1)关机状态打开拨码开关 1(拨码2 需处于OFF位置),且在开机的过程长按中间按键,从机1进入定频发射模式,此时屏幕右下角会显示当前定频发射通道“SC : 1”(如上图2所示);
(2)进入定频发射模式,需等待频率稳定后(至少2分钟),将测试盒靠近手持式频谱分析仪的天线,频谱上面的峰值对应频率即是从机 1定频发射点。
(3)手持式频谱分析仪按下“Marker”按键,再按“游标激活”,选择2441MHz;然后按下“差值”按键,最后按下“Peak”按键,屏幕上的标记差异即是从机1 的频偏值(如上图3所示)。
(4)根据频偏值,测试盒断电,旋转有源晶振调频螺丝进行调节(如图6),顺时针频率往高移动,逆时针频率往低移动,待测试盒频偏调整到±5KHz 以内,再按下 “Freq/Dist”按键,将扫描宽度调成 10KHz(扫描宽度小,频偏测试更精准),将频偏校准至±2KHz 以内并记录好频偏值。
【注意: 1、 有源晶振为高精度元件,需掉电操作,旋转时需小力且缓慢,避免造成晶振损坏;
2、 晶振调节之后需用贴纸盖住螺丝孔,防止晶振内部堆积灰尘损坏晶振。】
图6 有源晶振调频螺丝
(5)由于两个从机共用一个有源晶振,故两个样机的频偏值相同,只需校正一个从机即可。
(6)将之前记录好的数据贴好标签并保存到测试盒之中(如上图5所示)。
版本信息
| 版本号 | 日期 | 备注 |
|---|---|---|
| V1.0 | 2020.01.08 | 初始版本 |
| V1.1 | 2021.06.28 | 添加有源晶振校准步骤 |