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一拖八频偏校准使用说明

📎 原始文档:https://www.kdocs.cn/l/cp39BqgcLaZx

一拖八频偏校准使用说明

1 应用场景

正常生产过程,样机频偏校准是通过测试盒对样机逐个进行校准。为了省去样机单独进行频偏校准的步骤,在一拖八烧写器量产烧录芯片程序过程中,间接通过测试盒对样机进行频偏校准,提高生产效率。

2 校准说明

(1)原理说明

测试盒工作在校频波发射模式,持续发射基准信号做基准源,一拖八烧写器烧写器对样机芯片烧写完代码后使样机进入频偏校准模式,样机芯片持续接收测试盒发过来的基准信号做参考源来校准自身频偏。
样机频偏校准校准的是基准频率,频偏校准完后烧写器烧写校准参数到芯片指定存储区域,SDK直接读取进行频率补偿。
(2)支持频偏校准需要用到的工具版本

工具固件版本(以上)硬件版本(以上)支持芯片型号
测试盒V1.2.51T2_Test_BOX_V2.3蓝牙系列芯片
一拖八烧写器V3.1.0不限AD697N/AC897N/AD698N

3 校准操作流程

(l)升级工具固件

通过一拖八烧写器进行频偏校准,需要把一拖八烧写器, 以及测试盒升级到支持频偏校准版本的固件。
(2)烧写器勾选“频偏测试”选项并配置 “校频波频点配置”的参数,如图 14.1所示。
■ 烧写器默认不对频偏进行测试,如有频偏测试需求,请在更新目标芯片程序fw文件时在PC 工具界面的烧写选项中勾选 “频偏测试”选项。务必按注意事项进行操作:开频偏测试的方案,不能在sdk 中 setup.c 中修改clk_init_osc_cap (u8,u8)的参数,否则校准结果会失准。烧写前请与开发工程师进行核对确认!
■ 勾选 “频偏测试”后,配置 “校频波频点配置”参数
说明:1、 “校频波频点配置”参数对于同一套烧写器和测试盒参数必须配置一致;默认参数是 1(屏蔽环境或烧写器与测试盒距离很近可使用默认参数,可用一套即一个测试盒子对应多个烧写器校频), 0~4是带内,5~9是带外的参数,如果是2.4G干扰严重的环境,建议用带外的频点;2、 多套测试盒和烧写器在非屏蔽环境使用时,每一套要分别设置不同的频点,避免干扰;
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地址:深圳市南山区艺园路202号马家龙文体中心B座4F
电话:0755-26499936 传真:0755-86540096
网站:www.zh-jieli.com
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图 14.1 烧写器校频配置

(3)在测试盒PC端功能设置界面, “校频波频点配置”与烧写器参数配置成一致,如图 14.2所示;
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图 14.2 测试盒校频配置

(4)频偏校准过程
【1】测试盒上电开机,长按按键进入“校频波发射模式”; 【2】烧写器上电开机,并搭建好烧写环境(注意测试盒尽量靠近样机);对样机执行程序烧写或校验,在程序烧写或校验后进行频偏校准(正式版固件只支持烧写、校验模式进行频偏校准);烧写或校验成功并频偏校准完成后,进度条变绿色并显示有频偏校准值(一般校准完正负 10(单位kHz)左右是正常,考虑测试盒本身频偏误差),如图 14.3所示;如果校准失败有对应的报错信息;
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图 14.3 频偏校准过程

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4 注意事项

(1)建议使用有源晶振测试盒(测试盒硬件版本 1T2 _Test_BOX_V2.3 以上),确认测试盒发出基准是准确的。
(2)此项测试中样机与测试盒都需要尽量处于屏蔽箱内,避免外界环境影响到校准精度。
(3)开频偏测试的方案,不能在sdk 中 setup.c 中修改clk_init_osc_cap (u8,u8)的参数,否则校准结果会失准。烧写前请与开发工程师进行核对确认!
(4)开启频偏测试,务必打开测试盒进入 “校频波发射模式”,并同一套测试盒与烧写器, “校频波频点配置”必须配置一致,否则一拖八烧写器烧写报频偏校准超时。
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