2.15. MIC 测试功能

2.15.1. 应用场景

对于 MIC 异常的样机，在生产过程中需要挑选出来进行更换或对样机电路进行检修。如何快速挑选 MIC 异常的样机？

可以使用一拖八烧写器烧写样机芯片程序的同时，对样机上的 MIC 进行检测，检测出 MIC 存在异常的样机。例如，MIC 没有声音的样机。

如果样机的 MIC 正常，则烧写通过；反之当 MIC 异常的时候，烧写器则会报错。

这样即可把 MIC 异常的样机挑选出来，避免 MIC 异常的样机流入后续生产环节，提高生产效率。

2.15.2. 测试说明

支持 MIC 测试的烧写器固件版本和芯片型号。

一拖八烧写器固件版本（及以上）	支持芯片型号
V3.1.12	支持差分MIC、单端隔直MIC测试：AD697N/AC897N、AD698N、AC700N/JL700N、AC701N/JL701N
V3.1.14	支持省电容MIC测试：AD698N

MIC 测试配置参数说明

如需通过烧写器进行 MIC 测试，则需要在“更新FW文件的PC界面烧写选项”中对 MIC 测试项进行配置，如图MIC 测试选项配置所示：

MIC 测试选项参数配置说明

MIC 测项选项	说明
MIC 模式	有三种类型选择：1、差分MIC; 2、单端隔直MIC; 3、省电容MIC；务必根据实际方案选择对应的MIC模式类型进行测试
MIC 测试时间	默认为0，关闭MIC测试选择100mS以上,数值越大 MIC 测试稳定性越好，不考虑烧写速度建议选择500~1000ms
MIC 测试频率下限	如果环境中存在不可避免的低频噪声，可以根据噪声频率，设置频率下限，低于设定频率下限的频率会被过滤掉(设定的频率下限要小于测试时播放的正弦波频率)；频率下限(范围0-20000)
MIC 测试阈值上限 MIC 测试阈值下限	找若干个正常样机，在测试环境使用音源设备播放一个持续的正弦波(例如1kHz正弦波)，观察各个样机的 MIC 采集能量值输出范围，并基于这个范围的最大最小值，并预留适当的余量来确定设置能量阈值的上下限；能量阈值上限/能量阈值下限(范围0-32767) 如果在烧写测试过程中，样机的能量值不在上下限范围内，则认为该样机存在 MIC 异常
MIC_x 供电方式	对应要测试的 MIC 供电方式要根据实际的硬件设置： 1、选择 ‘OFF’：默认关闭当前 MIC 通道测试； 2、选择’BIAS’：即芯片设定的管脚供电，MIC0 是PA02引脚，MIC1 是PB07引脚(根据芯片型号而定)； 3、选择LDO供电，即 micldo 提供偏置； 4、选择IO供电，需要手动输入IO引脚。如：PA02, PA15, PB09 等IO供电(注意:需要输入4个字符。例如，输入的是 PA02 而不是 PA2)
MIC_x 偏置电阻	选择对应要测试的 MIC 需要的电阻值，即设置芯片内部的 MIC 的偏置电阻大小

无声音 MIC 特性
- MIC 器件的虚焊或者短路，导致采集不到声音，那么 adc 采集到的值不会有变化，能量值输出为0；
- MIC 有问题，采集不到声音或者声音特别小声，那么输出的电压信号幅度特别小，能量值输出是一个比正常情况小很多的值。

2.15.3. 测试操作步骤

寻找合适的 MIC 测试阈值上下限
- 更新 fw 烧写文件时，按照 MIC 参数配置说明，对 MIC 测试选项进行配置(最多同时支持测试4个 MIC ,但只有部分芯片支持4个)，
  其中 MIC 测试阈值下限可先设置0，上限可先设置1000；其余参数根据实际使用情况进行设置；在配置完参数之后，部署 fw 烧写文件和烧写选项到烧写器
- 选择烧写模式或校验模式，对样机芯片执行烧写或者校验流程，烧写或校验完成之后，成功和失败的情况下，一拖八烧录器显示屏都会显示要测试的 MIC0 或 MIC1 的能量值；
  如图MIC测试能量值显示所示：
MIC测试能量值显示

进度条颜色

含义

MIC0 能量值

MIC1 能量值

绿色

测试成功

1

1

红色

测试失败

1

1

Note

这里两次的能量值一样，但是报错不一致，是因为两次设置的MIC测试阈值上下限不一样
- 测试多个正常样机，记录每个样机的能量值，确定出合适的 MIC 测试阈值上下限
重新更新 fw 烧写文件，并配置合适的 MIC 测试阈值上下限，即可开始批量烧写并对 MIC 进行测试

2.15.4. 注意事项

务必先寻找合适的 MIC 测试阈值上下限，配置好 MIC 测试阈值上下限之后，再进行批量烧写测试
MIC 采集的数据中小于频率下限的部分会被过滤掉(例如环境有低频的干扰)

进度条颜色	含义	MIC0 能量值	MIC1 能量值
绿色	测试成功	1	1
红色	测试失败	1	1