10. DUT

10.1. 公版SDK的DUT测试程序制作流程

1、在app_modules.h APP方案选择RUN_APP_CUSTOM（即TEST_BLE_EN），dut测试程序仅运行于此方案.

2、在bt_ble.h打开BLE_DUT_TEST，以选择DUT测试模式;

3、在app_config.h 关闭 以下功能，防止模块功能占用IO：
AD按键(例如公版SDK的KEY_AD_EN)
LED数码管(LED5X7)
外挂数据flash(TFG_EXT_FLASH_EN)
SD卡使能(TFG_SD_EN)
PC模式使能(TCFG_PC_ENABLE)
U盘功能使能(TCFG_UDISK_ENABLE)

4、在app.c的mbox_flash_main函数中调用ble_module()函数,此处需要按照图中加上return;

"dut进入蓝牙测试“

dut进入蓝牙测试

5、下载后观察打印是否有–func=dut_hci_controller_init，确保进入dut模式；

10.2. DUT测试须知

默认使用串口的方式和CMW270此类设备通信，因此需要开发者需要检查自己代码是否有占用USBDP/USBDM io

下载后将串口（eg： 串口模块）的TX街接到USBDM，RX接到USBDP即可连接仪器进行测试。

备注

  • 连接仪器connect失败，需要优先检查串口设备是否正常，将串口的TX接到RX，打开串口工具（eg： 友善串口工具 ），用串口工具发送，看串口工具接收框是否能接收发送数据来测试串口工具是否正常。

  • 其次就是查看打印是否有 –func=dut_hci_controller_init 的打印确保已经进入dut模式。

  • DUT测试发射功率配置

    • dut默认使用芯片最大的发射功率档位测试，若想修改，仅需要在bt_ble.c中设置bt_get_pwr_max_level()为不同档位即可。

    "dut测试程序设置的发射功率“

    dut测试程序设置的发射功率

  • DUT数据

    • 请查阅各封装 Datasheet 。

10.3. BQB程序制作流程(仅使用于V1.4.0版本SDK以及后续版本SDK)

BQB测试程序制作流程在上述DUT程序制作流程的基础上，额外添加以下两个步骤。

1、在bt_ble.h关闭BLE_DUT_TEST

2、将btcontroller_mode.h中的CONFIG_BT_MODE设置为BT_BQB

"测试程序设置为BQB模式“

测试程序设置为BQB模式